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pH計(jì)，是指用來測(cè)定溶液酸堿度值的儀器。pH計(jì)是利用原電池的原理工作的，原電池的兩個(gè)電極間的電動(dòng)勢(shì)依據(jù)能斯特定律，既與電極的自身屬性有關(guān)，還與溶液里的氫離子濃度有關(guān)。原電池的電動(dòng)勢(shì)和氫離子濃度之間存在對(duì)應(yīng)關(guān)系，氫離子濃度的負(fù)對(duì)數(shù)即為pH值。pH計(jì)是一種常見的分析儀器，廣泛應(yīng)用在農(nóng)業(yè)、環(huán)保和工業(yè)等領(lǐng)域。土壤pH值是土壤重要的基本性質(zhì)之一。在pH測(cè)定過程中應(yīng)考慮待測(cè)溶液溫度及離子強(qiáng)度等因素。pH測(cè)量一定要標(biāo)定校準(zhǔn)嗎？pH測(cè)量通常有比色法（pH試紙或比色皿）和電極法二種。比色法當(dāng)然...

鍍層測(cè)厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測(cè)量，一般常采用無損檢測(cè)方法。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測(cè)量誤差，為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有必要對(duì)其進(jìn)行不確定度分析。1、對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的情況；對(duì)于較厚的覆蓋層，其測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差近似為一常數(shù)，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后，其...

化鎳自動(dòng)監(jiān)測(cè)加藥系統(tǒng)廣泛用于：印制電路板成形處理及五金電鍍、塑料電鍍行業(yè)化學(xué)鎳鍍膜工藝設(shè)計(jì)的分析監(jiān)測(cè)?？砷L(zhǎng)期、連續(xù)、自動(dòng)運(yùn)行，核心儀表采用由分光光度檢測(cè)原理的進(jìn)口鎳離子監(jiān)測(cè)儀，以對(duì)流程工藝中的鎳離子濃度進(jìn)行實(shí)時(shí)分析，并通過控制裝置對(duì)槽液自動(dòng)進(jìn)行化學(xué)鎳藥水和PH的補(bǔ)加，完成工藝設(shè)計(jì)過程中對(duì)鎳和PH添加之目的。1、采用美國(guó)禾威WALCHEM先進(jìn)的鎳離子分析儀（使用年限3-5年）和PH分析儀（使用年限3-5年）進(jìn)行分析監(jiān)測(cè)，保證了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性及精密度；2、取樣單元由藥水冷卻、過...

化學(xué)鎳分析監(jiān)測(cè)系統(tǒng)廣泛用于：印制電路板成形處理及五金電鍍、塑料電鍍行業(yè)化學(xué)鎳鍍膜工藝設(shè)計(jì)的分析監(jiān)測(cè)。主要功能特點(diǎn)：1、取樣單元由藥水冷卻、過濾、取樣、消泡、監(jiān)測(cè)等幾部分組成，以保證鍍液（≤30℃）分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠；2、采用美國(guó)禾威WALCHEM先進(jìn)的鎳離子分析儀（使用年限3-5年）和PH分析儀（使用年限3-5年）進(jìn)行分析監(jiān)測(cè)，保證了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性及精密度；3、采用自動(dòng)計(jì)量泵進(jìn)行加藥的設(shè)計(jì)，確保添加鎳與各組分之間的比例組合，達(dá)到長(zhǎng)期穩(wěn)定，不用經(jīng)常頻繁進(jìn)行校正；4、鍍液使用壽命...

鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有1.金相法2.庫侖法3.X-ray方法。金相法：采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大，誤差越小。庫侖法：適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍...

1.基體金屬特性：對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。2.基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。3.邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。4.曲率：不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。5.讀數(shù)次數(shù)：通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的...

1.接通電源，打開儀器開關(guān)，掀開樣品室暗箱蓋，預(yù)熱10分鐘。2.將靈敏度開關(guān)調(diào)至“1”檔（若零點(diǎn)調(diào)節(jié)器調(diào)不到“0”檔時(shí)，需選用較。）3.根據(jù)所需波長(zhǎng)轉(zhuǎn)動(dòng)波長(zhǎng)選擇鈕。4.將空白液及測(cè)定液分別倒入比色杯3/4處，用擦鏡紙擦清外壁，放入樣品室內(nèi)，使空白管對(duì)準(zhǔn)光路。5.在暗箱蓋開啟狀態(tài)下調(diào)節(jié)零點(diǎn)調(diào)節(jié)器，使讀數(shù)盤指針指向t=0處。6.蓋上暗箱蓋，調(diào)節(jié)“100”調(diào)節(jié)器，使空白管的t=100，指針穩(wěn)定后逐步拉出樣品滑竿，分別讀出測(cè)定管的光密度值，并記錄。7.比色完畢，關(guān)上電源，取出比色皿洗...